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Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
Tipo de material:
TextoSeries Materials Science/ChemistryEditor: New York, NY : Springer [2018]Edición: Fourth editionDescripción: xxiii, 550 páginas : ilustraciones (algunas a color)Tipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9781493966745Tema(s): Microscopía electrónica de barrido | Microscopios de rayos XClasificación LoC:QH212.S3 | G643 2018
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libros
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Química Estudios Profesionales Libros | General | QH212.S3 G643 2018 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 97093 |
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