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Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction : X-ray, electron and ion spectrometry : Electron microscopy / J. p. eberhart ; translated by j. p. eberhart
Tipo de material:
TextoEditor: Chichester : J. Wiley, c1991Descripción: 545 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0471929778Tema(s): Materiales -- Microscopía | MicroestructuraClasificación LoC:TA417.23 | E34
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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