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Goldstein, Joseph, nacimiento 1939,

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael - Third edition - 690 páginas : ilustraciones

ISBN: 9780306472923 9781461349693

Subjects--Topical Terms:
Microanálisis por rayos X
Microscopios electrónicos exploradores

LC Class. No.: QH212.E9 / S22 2003b