Surface and interface characterization by electron optical methods / Ed. by a. howie and v. valdre
Tipo de material: TextoSeries Nato asi series. series b, physics ; v. 191Editor: New York : Plenum, c1988Descripción: viii, 319 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 030643086xTema(s): Superficies (Física) -- Técnica -- Congresos | Microscopía electrónica -- Congresos | Microscopía electrónica -- Transmisión -- CongresosClasificación LoC:QC173.4S94 | N38 1987Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Facultad de Química (Anexo), Metalurgia Libros | General | QC173.4S94 N38 1987 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Dañado | 6633 |
Total de reservas: 0
"proceedings of a nato advanced study institute on the study of surfaces and interfaces by electron optical techniques, held april 4-15, 1987, in erice, sicily, italia" -- rev. de la portada
"published in cooperation with nato scientific affairs division"
No hay comentarios en este titulo.