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Characterization in silicon processing / editor Yale Strausser
Tipo de material:
TextoSeries Materials characterization seriesEditor: New York : Momentum, c2010Descripción: 240 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9781606501092; 1606501097Tema(s): Silicio -- Propiedades eléctricas | Silicio -- Propiedades ópticas | Compuestos de silicio -- Propiedades electricasClasificación LoC:QC611.8S5 | C43
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Facultad de Química (Anexo), Metalurgia Libros | General | QC611.8S5 C43 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 79516 |
Total de reservas: 0
Navegando Facultad de Química (Anexo), Metalurgia Estantes, Ubicación: Libros, Código de colección: General Cerrar el navegador de estanterías (Oculta el navegador de estanterías)
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