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Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael
Tipo de material:
TextoEditor: [New York] : Springer, 2003Edición: Third editionDescripción: 690 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780306472923; 9781461349693Tema(s): Microanálisis por rayos X | Microscopios electrónicos exploradoresClasificación LoC:QH212.E9 | S22 2003b
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Facultad de Química (Anexo), Metalurgia Libros | General | QH212.E9 S22 2003b (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 80062 |
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