TY  - BOOK
AU  - Strausser,Yale
TI  - Characterization in silicon processing
T2  - Materials characterization series
SN  - 9781606501092
AV  - QC611.8S5 C43
PY  - 2010///
CY  - New York
PB  - Momentum
KW  - Silicio
KW  - Propiedades eléctricas
KW  - Propiedades ópticas
KW  - Compuestos de silicio
KW  - Propiedades electricas
ER  -