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Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael por Goldstein, Joseph, nacimiento 1939 [autor] | Newbury, Dale E [autor] | Echlin, Patrick [autor] | Joy, David C [autor] | Lyman, Charles E [autor] | Lifshin, Eric [autor] | Sawyer, Linda C, 1944- [autor] | Michael , Joseph R [autor]. Edición: Third editionTipo de material:  Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Editor: [New York] : Springer, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Facultad de Química (Anexo), Metalurgia (1)Clasificación: QH212.E9 S22 2003b.
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