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| 245 | 0 | 0 |
_aCharacterization in silicon processing / _ceditor Yale Strausser |
| 264 | 1 |
_aNew York : _bMomentum, _cc2010 |
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| 300 |
_a240 páginas : _bilustraciones |
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| 490 | 0 | _aMaterials characterization series | |
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_aSilicio _xPropiedades eléctricas |
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_aSilicio _xPropiedades ópticas |
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| 650 | 4 |
_aCompuestos de silicio _xPropiedades electricas |
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_aStrausser, Yale, _eeditor |
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_c2589 _d2589 |
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