Normal view MARC view ISBD view

Secondary ion mass spectrometry :

Benninghoven, A.,

Secondary ion mass spectrometry : Basic concepts, instrumental aspects, applications and trends / A. benninghoven, f.g. rudenauer, h.w. werner - 1227 páginas - Chemical analysis ; v. 86 .

"a wiley-interscience publication"

ISBN: 0471010561

Subjects--Topical Terms:
Espectrometría de masas de iones secundarios

LC Class. No.: QD96.S43 / B45

Print
Add to your cart (remove)
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:

Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org) LIBRUNAM TESIUNAM SERIUNAM

Universidad Nacional Autónoma de MéxicoFacultad de Química Catálogo de la Biblioteca de Estudios de Posgrado

Secondary ion mass spectrometry :

Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Química
Catálogo de la Biblioteca de Estudios de Posgrado