MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
01049nam a2200265zi 4500 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20200318115045.0 |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
040830c1985ng0 13 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
0931837111 |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA |
|---|
| Número de control de sistema |
MX001000605335 |
| 050 ## - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TK7871.85 |
| Número de documento/Ítem |
M525 1985 |
| 245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : |
| Resto del título |
Symposium held april 15-18, 1985, san francisco, california, u.s.a. / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Eds. noble m. Johnson, Stephen g. bishop, George d. watkins |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Pittsburgh, pennsylvania : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Materials research society, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
c1985 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
xv, 604 páginas |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Término de tipo de contenido |
texto |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Nombre/término del tipo de medio |
sin medio |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
|---|
| Nombre/término del tipo de soporte |
volumen |
| Fuente |
rdacarrier |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Materials Research Society symposia proceedings ; |
| Designación de volumen o secuencia |
v. 46 |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Semiconductores |
| Subdivisión general |
Defectos |
| Subdivisión de forma |
Congresos |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Microscopía |
| Subdivisión de forma |
Congresos |
| 700 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Johnson, Noble M., |
| Término indicativo de función/relación |
editor |
| 700 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Bishop, Stephen G., |
| Término indicativo de función/relación |
editor |
| 700 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Watkins, George D. |
| Término indicativo de función/relación |
editor |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA |
|---|
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada |
Materials Research Society |
