Feldman, Leonard C.,
Materials analysis ion channeling : Submicron crystallography /
Leonard c. feldman, James w. mayer s.
- 300 páginas
0122526805
Fasces ionicas
Cristalografía
Cristales--Defectos
Sólidos--Superficies
Canalización (Física)
QC176.8C45 / F44