TY  - BOOK
AU  - Feldman, Leonard C.,
AU  - Mayer,James W.
AU  - Picraux, S. Thomas
TI  - Materials analysis ion channeling: Submicron crystallography 
SN  - 0122526805
AV  - QC176.8C45 F44
PY  - 1982///
CY  - New York
PB  - Academic
KW  - Fasces ionicas
KW  - Cristalografía
KW  - Cristales
KW  - Defectos
KW  - Sólidos
KW  - Superficies
KW  - Canalización (Física)
ER  -